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Casa > Centro di prodotti > Circuiti integrati (ICS) > Logica-Specialty Logic > SN74BCT8245ADWR
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SN74BCT8245ADWR

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Specifiche
  • Modello di prodotti
    SN74BCT8245ADWR
  • Costruttore / Marca
  • Quantità stock
    In magazzino
  • Descrizione
    IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
  • Stato Lead senza piombo / RoHS
    Senza piombo / RoHS conforme
  • Tensione di alimentazione
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Contenitore dispositivo fornitore
    24-SOIC
  • Serie
    74BCT
  • imballaggio
    Tape & Reel (TR)
  • Contenitore / involucro
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Altri nomi
    SN74BCT8245ADWRE4
    SN74BCT8245ADWRE4-ND
    SN74BCT8245ADWRG4
    SN74BCT8245ADWRG4-ND
  • temperatura di esercizio
    0°C ~ 70°C
  • Numero di bit
    8
  • Tipo montaggio
    Surface Mount
  • Moisture Sensitivity Level (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Produttore tempi di consegna standard
    42 Weeks
  • Tipo Logic
    Scan Test Device with Bus Transceivers
  • Stato senza piombo / Stato RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Descrizione dettagliata
    Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-SOIC
  • Numero di parte base
    74BCT8245
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8240ADWRE4

SN74BCT8240ADWRE4

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino

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