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SN74BCT8373ADW

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Specifiche
  • Modello di prodotti
    SN74BCT8373ADW
  • Costruttore / Marca
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Quantità stock
    In magazzino
  • Descrizione
    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
  • Stato Lead senza piombo / RoHS
    Senza piombo / RoHS conforme
  • Tensione di alimentazione
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Contenitore dispositivo fornitore
    24-SOIC
  • Serie
    74BCT
  • imballaggio
    Tube
  • Contenitore / involucro
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Altri nomi
    SN74BCT8373ADWE4
    SN74BCT8373ADWE4-ND
    SN74BCT8373ADWG4
    SN74BCT8373ADWG4-ND
  • temperatura di esercizio
    0°C ~ 70°C
  • Numero di bit
    8
  • Tipo montaggio
    Surface Mount
  • Moisture Sensitivity Level (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Produttore tempi di consegna standard
    6 Weeks
  • Tipo Logic
    Scan Test Device with D-Type Latches
  • Stato senza piombo / Stato RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Descrizione dettagliata
    Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
  • Numero di parte base
    74BCT8373

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
RFQ
SN74BCT8374ADWRE4

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
RFQ
SN74BCT8244ADWR

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
RFQ
SN74BCT8244ADW

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
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SN74BCT8244ANTG4

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
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SN74BCT8240ANTG4

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
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SN74BCT8374ANTG4

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
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SN74BCT8245ADWR

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
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SN74BCT8374ADWRG4

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
RFQ
SN74BCT8374ADW

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
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SN74BCT8374ANT

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
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SN74BCT8244ADWE4

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8245ANTG4

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8373ANT

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8373ADWR

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8244ANT

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8374ADWR

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
In magazzino
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SN74BCT8245ADW

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Descrizione: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Produttori: Luminary Micro / Texas Instruments
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